Mikroskop Elektron Scanning Microscope Electron SU3800 SU 3800 Hitachi

Availability: In Stock

Deskripsi

Performa & Daya dalam Platform Fleksibel

Mikroskop elektron pemindai SU3800/SU3900 dari Hitachi High-Tech menawarkan pengoperasian dan perluasan yang mudah. Operator dapat mengotomatiskan berbagai operasi dan memanfaatkan kinerja tinggi secara efisien. SU3900 dilengkapi dengan ruang spesimen serbaguna yang besar untuk mengakomodasi pengamatan sampel berukuran besar.

Spesifikasi

Barang		Fitur Produk
Barang		SU3800	SU3900
Resolusi Elektron Sekunder		3,0 nm (tegangan percepatan 30 kV, WD = 5 mm, mode vakum tinggi)
Resolusi Elektron Sekunder		15,0 nm (tegangan percepatan 1 kV, WD = 5 mm, mode vakum tinggi)
Resolusi Elektron Hamburan Balik		4,0 nm (tegangan percepatan 30 kV, WD = 5 mm, mode vakum rendah)
Pembesaran		×5 hingga ×300.000 (perbesaran gambar*1)
Pembesaran		×7 hingga ×800.000 (perbesaran tampilan sebenarnya*2)
Tegangan Akselerasi		0,3 kV hingga 30 kV
Pengaturan Mode Vakum Rendah		6 hingga 650 Pa
Pergeseran Gambar		± 75 µm (WD = 10 mm)
Ukuran Spesimen Maksimum		Ukuran 200 mm	Ukuran 300 mm
Tahap Spesimen	X	0 hingga 100 mm	0 hingga 150 mm
	kamu	0 hingga 50 mm	0 hingga 150 mm
	Z	5 hingga 65 mm	5 hingga 85 mm
	R	360° dalam mode berkelanjutan
	T	－20 hingga +90°
	Jangkauan Gerak Maksimum	Φ 130 mm (dalam kombinasi dengan R)	Φ 200 mm (dalam kombinasi dengan R)
	Tinggi Bergerak Maksimum	80 mm (WD = 10 mm)	130 mm (WD = 10 mm)
	Penggerak Motor	Penggerak motor 5 sumbu
Optik Elektron	Senjata Elektron	Filamen jepit rambut tungsten tipe kartrid pra-terpusat
	Bukaan Lensa Objektif	Bukaan bergerak 4 lubang
	Detektor	Detektor elektron sekunder, detektor elektron hamburan balik semikonduktor yang sensitif
	WD untuk analisis EDX	WD = 10 mm (TOA = 35°)
Tampilan Gambar	Fungsi Penyelarasan Sumbu Otomatis	Kontrol sinar: otomatis (AFS→ABA→AFC→ABCC)
		Penyesuaian sumbu optik: otomatis (penyelarasan arus)
		Kecerahan sinar: otomatis
	Fungsi Penyesuaian Gambar Otomatis	Kontrol kecerahan dan kontras otomatis (ABCC)
		Kontrol fokus otomatis (AFC)
		Stigma dan fokus otomatis (ASF)
		Saturasi filamen otomatis (AFS)
		Penyelarasan sinar otomatis (ABA)
		Mulai otomatis (HV-ON→ABCC→AFC)
Operasi Fungsi Bantu		Rotasi raster, fokus dinamis, fungsi peningkatan gambar, Input data (pengukuran titik ke titik, pengukuran sudut, teks), pembesaran preset, Fungsi navigasi pemosisian panggung (SEM MAP), Fungsi penandaan sinar
Fungsi opsional		■Perangkat Keras: Bola lintasan, Joystick, Panel operasi, Kompresor, Detektor vakum rendah ultra sensitif (UVD), Lingkup ruang, Sistem navigasi kamera ■Perangkat Lunak: Manajer data SEM, Antarmuka komunikasi eksternal, Pengambilan 3D, Mode bebas panggung, Integrasi EDS
Opsi (untuk Perangkat Eksternal)		Spektrometri sinar-X dispersif energi (EDS), Spektrometri sinar-X dispersif panjang (WDS), Berbagai tahap eksternal (tahap pemanasan, tahap pendinginan, tahap tarik)